电感耦合等离子光谱（ICP-OES）是一种高灵敏度的元素分析技术，通过等离子体激发样品原子并测量发射光谱来定量检测元素浓度。在电子电工行业，它广泛应用于半导体材料、电路板和电子元件的成分分析。

在半导体制造中，ICP-OES可检测硅片中的杂质如重金属和碱金属，这些杂质会影响器件性能。通过快速分析，生产商能及时调整工艺参数，提高产量。

对于电工合金和导体材料，ICP-OES帮助识别合金比例和污染物，有助于材料符合行业标准如RoHS指令，避免环境合规风险。

此外，该技术支持批量样品处理，适用于质量控制实。