能量色散X射线光谱(EDS)利用电子束激发样品产生特征X射线,通过能量分辨确定元素种类与含量,实现微区点、线、面分析。
在工业领域常与SEM/TEM联用,适用于金属夹杂物检测、涂层成分验证及半导体缺陷分析,检测范围覆盖Be以上元素。
优势在于分析速度快、非破坏性强,助力制造业提升材料品质与失效分析效率。
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