图像识别缺陷检测采用机器视觉算法，精准捕捉划痕、裂纹等异常，取代传统人工目检。

广泛应用于半导体与汽车零部件生产线，更好把控产品质量一致性并记录缺陷数据。

优化光源与深度学习模型可大幅提高检测速度，支持工业4.0智能质控体系。