高质量探针测试治具采用高精度CNC加工与Pogo Pin选型,有助于针尖定位误差控制在±0.02mm以内。
治具结构通常包含浮动压板、导柱导向与快速更换定位板设计,有效降低产品换型时间并保护被测板。
在ICT与FCT测试中,探针治具配合自动化上下料系统,已成为提升电子制造测试产能的关键设备。
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