密度计常见故障：上疏下密的原因与排查

在电子电工应用，密度计上疏下密常作为故障表现，源于长期使用积累的不均。

原因排查第一步：检验样品接口密封，漏气易导致颗粒下沉。

第二步，软件日志分析：检查是否固件bug放大分布差异，重置参数即可恢复。

硬件层面，清洁振动模块，避免积尘诱发上层稀疏。B2B服务提供远程诊断工具。

预防故障：每月例行校准，记录上疏下密趋势，早发现早干预。

排查效率高时，修复时间缩短至1小时，确保生产连续性。