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SMBJ6.5A制造过程中的质量控制

SMBJ6.5A制造过程中的质量控制
晶圆掺杂阶段控制硅纯度,目标击穿电压7.22V±10%。使用SPC监控过程变异。 扩散和金属化后,进行电学测试筛除缺陷。良率目标超过99%。 SMB封装采用回流焊,X射线检查焊点完整。湿度控制在40%RH以下。 最终AOI光学检验外观。抽样AQL 0.65标准。 追溯系统记录批次数据,支持FMEA分析。 持续改进Kaizen方法优化产量。

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📋 SMBJ6.5A制造过程中的质量控制 详细介绍

晶圆掺杂阶段控制硅纯度,目标击穿电压7.22V±10%。使用SPC监控过程变异。

扩散和金属化后,进行电学测试筛除缺陷。良率目标超过99%。

SMB封装采用回流焊,X射线检查焊点完整。湿度控制在40%RH以下。

最终AOI光学检验外观。抽样AQL 0.65标准。

追溯系统记录批次数据,支持FMEA分析。

持续改进Kaizen方法优化产量。

🧭 核心要点

  • 晶圆掺杂阶段控制硅纯度,目标击穿电压7.22V±10%
  • 扩散和金属化后,进行电学测试筛除缺陷
  • SMB封装采用回流焊,X射线检查焊点完整

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