高温老化房在电子元器件可靠性测试中的应用

📋 高温老化房在电子元器件可靠性测试中的应用 详细介绍

高温老化房通过精确控温（通常40-200℃）与均匀风场实现电子元器件的高温加速老化测试。

设备需具备PID精准控温、过温保护及多层独立样品架，以满足不同功率器件散热需求。

老化试验数据结合Weibull分布分析，可有效评估产品寿命与可靠性水平。