X射线衍射仪基本原理及其在材料分析中的应用

📋 X射线衍射仪基本原理及其在材料分析中的应用 详细介绍

X射线衍射仪核心原理为布拉格定律：nλ=2d sinθ，当X射线以特定角度照射晶体时发生相干散射，形成特征衍射峰。

仪器由X射线发生器、测角仪及探测器组成，利用Cu靶Kα射线扫描样品，获取2θ位置、峰强及形状等数据。

在工业领域，该技术广泛用于金属材料物相分析、晶体结构表征及应力测定，是材料研发与质量控制的重要工具。