J.A. Woollam光谱椭偏仪：薄膜光学精密测量核心工具

📋 J.A. Woollam光谱椭偏仪：薄膜光学精密测量核心工具 详细介绍

J.A. Woollam公司专注光谱椭偏仪研发，产品如M-2000系列覆盖193-1000nm波段，提供Ψ和Δ参数精确表征。

仪器采用旋转补偿器技术，确保高信噪比和快速数据采集，适用于多层膜、各向异性材料分析。

在半导体、光学涂层和纳米材料领域，该椭偏仪已成为膜厚与折射率非破坏性测量的行业标准设备。