反射式共聚焦显微镜在材料表面分析中的高分辨率成像技术

📋 反射式共聚焦显微镜在材料表面分析中的高分辨率成像技术 详细介绍

反射式共聚焦显微镜利用激光扫描和针孔滤波，实现Z轴分辨率达0.1μm，适用于半导体和金属表面观察。

设备支持3D重构功能，通过软件分析粗糙度和缺陷，提高质量控制精度。